高分辨表界面微區(qū)化學(xué)成 分分析系統(tǒng)

儀器名稱:高分辨表界面微區(qū)化學(xué)成 分分析系統(tǒng)
品牌: 布魯克
型號(hào):IconIR
產(chǎn)地:美國
儀器介紹:
高分辨表界面微區(qū)化學(xué)成分分析系統(tǒng)(IconIR )是一款集合了納米級(jí)紅外成像(nanoIR)技術(shù)和掃描探針顯微鏡(SPM)技術(shù)的全新系統(tǒng)。
該系統(tǒng)可在納米尺度下,除了測量材料的表面形貌以外,還可以分析材料低于10nm尺度下的化學(xué)成分信息、紅外光譜信息、納米力學(xué)信息和電學(xué)信息等。
該系統(tǒng)具有超高的化學(xué)成像分辨率和單分子層靈敏度化學(xué)成像能力,可有效進(jìn)行納米尺度下材料表面的官能團(tuán)及其組分分布、分子取向的研究,共振增強(qiáng)模式可以達(dá)到單分子層靈敏度。
該系統(tǒng)配有快速成像模式,成像速度可達(dá)90Hz以上,實(shí)現(xiàn)原位動(dòng)態(tài)測試。
該系統(tǒng)可以廣泛應(yīng)用于高分子復(fù)合材料、有機(jī)無機(jī)復(fù)合材料、生物醫(yī)用材料、新能源材料、芯片電子材料等重要研究領(lǐng)域。